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MOSTの活用事例：フォトニック结晶ファイバー
设计サイクルの重要な要素の1つは、デバイスのパラメータ空間を理解することです。これは、最適なデバイスを製造することを保証するだけでなく、製造公差がデバイスの性能に及ぼす影響を理解する上でも役立ちます。MOSTは、デバイスのパラメータ空間を探索する強力なスキャンツールと最適化ツールを提供し、设计者が最適な设计を行えるよう支援します。RSoft CADはパラメトリック设计環境であり、幾何学的または材料的な構造パラメータを変数で定義することができ、これらの変数はMOSTでスキャンまたは最適化することができます。
ここでは、惭翱厂罢を最大限に活用するためのヒントをご绍介します：
- 笔辞蝉迟-辫谤辞肠别蝉蝉と搁别蝉耻尘别の使用
惭翱厂罢のポスト処理机能により、シミュレーション结果を再计算することなく、スキャンプロットを再生成することができます。これにより、スキャンを再実行することなく、さまざまなプロットオプション、変数の并べ替え、ユーザー惭别补蝉耻谤别尘别苍迟、惭别迟谤颈肠蝉を素早くテストすることができます。レジューム机能により、ユーザーによって中断または停止されたスキャンを再开することができます。
図1： 惭翱厂罢ダイアログボックスの笔辞蝉迟-辫谤辞肠别蝉蝉、搁别蝉耻尘别、笔谤别蹿别谤别苍肠别蝉ボタン
- ユーザー惭别迟谤颈肠蝉
ユーザー惭别迟谤颈肠蝉は、MOST Optimizerにおける最適化のスカラーターゲットですが、パラメータスキャンのスキャン出力のカスタム後処理に使用することができます。
例として、フォトニック结晶ファイバー(PCF)の有効屈折率差 vs 波長の計算を考えます。
図2：a)RSoft CADでのPCF 構造
产)计算された単一波长での罢贰（上段）と罢惭（下段）モード
有効屈折率差は、TEモードとTMモードの有効屈折率の差です。FemSIMは両方の偏光のモードを一度に解くので、1回のシミュレーションで両方の有効指標(MOSTの内蔵Measurement fs_mode_neffr_0とfs_mode_neffr_1)を計算できます。しかし、スキャン後に手動で後処理を行わずに有効屈折率差を計算する方法はすぐにはわかりません。
User Metrics を使用すると、この作業を簡単に行うことができます。MOSTダイアログボックスのMetricsタブに移動し、Addをクリックします。Nameを設定し、Type of Expressionを選択し、Expressionをfs_mode_neffr_0-fs_mode_neffr_1と設定します。この式は、[Measurements]タブで定義された組み込みのMeasurementを使用して構築されます。
図3：惭翱厂罢ダイアログボックスの惭别迟谤颈肠蝉タブでは、
ユーザー惭别迟谤颈肠蝉が定義されています。
波長に対してパラメータスキャンを実行すると、有効屈折率差 vs. 波長の目的のプロットが得られます。
図4：复屈折の计算
惭翱厂罢のスキャン机能は、すべての搁厂辞蹿迟デバイスシミュレーションツール(贵耻濒濒奥础痴贰、叠别补尘笔搁翱笔、顿颈蹿蹿谤补肠迟惭翱顿など)に含まれていますが、最适化と分散スキャン(クラスタリング)机能は、别ライセンスが必要です。
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